射频探针

速联科提供多种接口和尺寸的射频测试探针及跳线，用于智能手机及终端生产测试，兼容国内外主流厂商的射频微型接口和开关。超微针头直径0.10mm，超小间距至0.70mm，测试频率最高可达12GHz及以上。最新设计的多通道测试探针，有效提高下一代智能手机的愈加密集的接口测试效率。使用寿命高达2万次以上的反复寿命测试，无论弹力还是电气性能依然可以让您准确的完成测试。提供产品定制化服务，定制参数包括接口，尺寸，浮动行程，测试弹力范围等。